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- 无标记导模共振布儒斯特传感器检测灵敏度研究
- 作者： 暂无 来源： 光学学报 年份： 2014 文献类型 ： 期刊 关键词： 无标记 布儒斯特角 导模共振 探测器 严格的耦合波理论 灵敏度
- 描述： 基于严格的耦合波分析方法(RCWA)和等效媒质理论(EMT)研究了布儒斯特角入射时TM偏振光的导模共振特性以及不同结构参数对无标记光学检测灵敏度的影响。分析了三种不同膜层结构对检测灵敏度的影响,通过RCWA计算发现单层光栅在实验入射媒质范围内,折射率每改变0.1,共振角度位置平均变化5.1°,双层膜和三层膜光栅结构对应的共振角度位置平均变化3.6°和4.2°,均表现出了较高的检测灵敏度。在单层光栅结构中,随着光栅调制率由0.4525减弱至0.1441,折射率每改变0.1,角度变化率分别为4.48°和4.95°,检测灵敏度增加。
- 椭圆偏振测量技术及其应用
- 作者： 暂无 来源： 现代物理知识 年份： 2003 文献类型 ： 期刊 关键词： 偏振光 光学特性 偏振态 薄膜 椭圆偏振测量技术 探测器 应用
- 描述： 椭圆偏振测量技术 (简称椭偏技术 )是利用偏振光束在界面或薄膜上反射或透射时出现偏振态的变化 ,研究界面或薄膜特性的一种光学方法。椭偏技术具有抗干扰性强、高灵敏度、对样品无特殊要求等优点 ,因而在材料科学、微电子技术、薄膜技术、物理学、化学、生物学和医学等领域有着广泛的应用。一、历史回顾追溯椭偏技术的发展 ,已有近百年的历史。在19世纪初 ,人们对光波做了大量的观察和研究 ,发现光波实际上存在着不同程度的偏振态。 16 6 9年 ,丹麦的巴塞林那斯 (E .Bartholinus)发现光经过方解石晶体有双折射现象。 180 8年 ,法国的马吕斯 (E .L .Malus)发现光具有偏振性。 1817年 ,托马斯·杨 (T .Young)提出了光波是横波的假设。 182 3年 ,菲涅耳 (A .J .Fresnel)推导出光的反射与折射定律。 186 4年 ,麦克斯韦 (J .C .Maxwell)预测光是电磁波 ,为光波的电磁理论奠定了基础。 186 8年 ,苏格兰的布儒斯特 (D .Brewster)发现了著名的布儒斯特反射定律。至此 ,关于椭偏技术所需要的理论框架基本形成。1889年 ,德鲁德 (P .K...